悠君点评：
我司长期，高价回收各类二手膜厚测试仪、元素分析仪、光谱分析仪
①长期高价收购各类二手膜膜厚测试仪：提供租凭服务
费希尔 Fischer ：XDLM-B、XDL-B、XMDVM-T7.1W、XMDVM-T7.1P XUL XULM XDLM231 XDL210 XDL230 XDV-u等等
牛津 CMI：CMI980 CMI900、CMI920 等等
2 光谱分析仪：
安捷伦:86146B、86145B-006、86142B;
横河：AQ6319、AQ6375、AQ6370、AQ6317、AQ6317B、AQ6315A/B；
安立：MS9710C、MS9780A等等
注：同时提供光谱等维修、以旧换新，租凭等业务,请有需要的朋友欢迎来电咨询洽谈。
菲希尔XULM 膜厚仪是一部简单、容易操作，且经济实惠的测量仪器,大的测量室可以测量大体积、不规则形状的工件。DMC测量法能对测量距离修正，可以自动测量复杂的形状，大的线路板也可轻易的放在测量头及测量台之间的槽进行测量。菲希尔XULM 膜厚仪配备微焦距XRAY管，四个电动移动准值器，尺寸为圆形直径0.1MM；0.2MM；及方形的0.05MM*0.05MM；0.03MM*0.2MM，还有三个基本滤片选用，使光谱圈更合适分析，基本操作软件WINFTM V6 LIGHT，可以同时间测量多至4层镀层、或进行多至5元素的合金分析、又或是最多测量两个正离子的药水浓度测量分析。在不使用标准片做校正的情况下可达到一个相当不错的测量结果。菲希尔XULM 膜厚仪主要应用于小五金的测量（如：小螺丝、手表、眼镜、端子），大面积的样品（如：线路板），亦可测量药水含量（只需要将药水放进别外选购的测量杯便可以进行测量，这样便可以随时随地的监察电镀槽的药水状况如何，有效率地控制电镀生产，测贵金属成分可达到重复性约0.1%。
FISCHER XUL X射线萤光测厚仪，是结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计，此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理，符合国际标准来进行非破坏及不接触的测量。除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量。至于需要测量电镀槽内的金离子停含量的浓度也是十分简单。FISCHER XUL X-射线萤光测厚仪具备手动的测量台，可移动的范围是50MM*50MM，不需要打开测量门便可以移动不同测量，更方便操作。测试方向由下向上照射的设计是只需要对准量位置，而不需要调校焦距便可以进行测量，并且由下向上的照射，操作员只需将测试面朝下，不论大小的样品可直接放进测量室内，不用调距离，只需对准位置，便可立即测量，这不单可以令测量更快速，还可以避免因在调校测量距离错误时影响计算厚度。FISCHER XUL X-射线萤光测厚仪是根据ASTM B568/ISO3497的规格进行设计的，WINFTM的控制软件，已成为多功能及准确度高的样板极适合对一些较小的样板进行测量，尤其是对手表、端子、小螺丝、螺丝帽、一些电气产品中的小五金零件等等。
菲希尔XDL X－RAY光谱膜厚仪，是发展继承其前身FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B系列，其非破坏式的测量，特别适合五金的金属镀层厚度，如一些五金零件、电路板及测量电镀槽中的金离子的含量。菲希尔XDL X－RAY光谱膜厚仪，采用了高次数率的比例接收器，可以在没有标准片的情况下，对金属五金件的镀层厚度及电镀液中的离子含量做出精确的测量，另外在WINFTM BASIC 软件的支持下，可测量多至24元素，这是其他品牌所不能的。菲希尔XDL X－RAY光谱膜厚仪的长期稳定性是十分高的，这使仪器减少校正所需要的时间及次数，便于管理仪器，并提高生产效率.应用范围广泛，包括了测量大量的电镀五金件、检查薄膜层（如：装饰性铬的镀层）、在电子及半导体行业中分析其功能性的镀层、可用于电路板测量、电镀槽中的药水成份分析。
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